X射線(xiàn)同無(wú)線(xiàn)電波、可見(jiàn)光、紫外線(xiàn)等一樣，本質(zhì)上都屬于電磁波，只是彼此之間占據不同的波長(cháng)范圍而已。X射線(xiàn)的波長(cháng)較短，大約在10-8～10-10cm之間。X射線(xiàn)分析儀器上通常使用的X射線(xiàn)源是X射線(xiàn)管，這是一種裝有陰陽(yáng)極的真空封閉管，在管子兩極間加上高電壓，陰極就會(huì )發(fā)射出高速電子流撞擊金屬陽(yáng)極靶，從而產(chǎn)生X射線(xiàn)。
 

　　X射線(xiàn)衍射儀XRD是利用X射線(xiàn)在晶體物質(zhì)中的衍射效應進(jìn)行物質(zhì)結構分析的技術(shù)。每一種結晶物質(zhì)，都有其特定的晶體結構，包括點(diǎn)陣類(lèi)型、晶面間距等參數，用具有足夠能量的X射線(xiàn)照射試樣，試樣中的物質(zhì)受激發(fā)，會(huì )產(chǎn)生二次熒光X射線(xiàn)(標識X射線(xiàn))，晶體的晶面反射遵循布拉格定律。通過(guò)測定衍射角位置(峰位)可以進(jìn)行化合物的定性分析，測定譜線(xiàn)的積分強度(峰強度)可以進(jìn)行定量分析，而測定譜線(xiàn)強度隨角度的變化關(guān)系可進(jìn)行晶粒的大小和形狀的檢測。
 

　　X射線(xiàn)衍射儀XRD可為客戶(hù)解決的問(wèn)題：
 

　　(1)當材料由多種結晶成分組成，需區分各成分所占比例，可使用XRD物相鑒定功能，分析各結晶相的比例。
 

　　(2)很多材料的性能由結晶程度決定，可使用XRD結晶度分析，確定材料的結晶程度。
 

　　(3)新材料開(kāi)發(fā)需要充分了解材料的晶格參數，使用XRD可快捷測試出點(diǎn)陣參數，為新材料開(kāi)發(fā)應用提供性能驗證指標。
 

　　(4)產(chǎn)品在使用過(guò)程中出現斷裂、變形等失效現象，可能涉及微觀(guān)應力方面影響，使用XRD可以快捷測定微觀(guān)應力。
 

　　(5)納米材料由于顆粒細小,易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會(huì )給出錯誤的數據。采用X射線(xiàn)衍射線(xiàn)線(xiàn)寬法(謝樂(lè )法)可以測定納米粒子的平均粒徑。